◆：公開：高知工科大学附属情報図書館にて閲覧公開
−2006年度−
修士
―
学士
◆有田 竜一 「冷却CCD を用いた発光･発熱の検出」
◆中村 朋矢 「RIE利用によるエッチング形状の研究」
◆橋田 啓示 「CMOS LSIのOpen故障現象の研究」
＊畑 広海 「液晶を用いた異常発熱箇所の特定」
◆森尾 剛 「フーリエ解析によるIDDQ異常の検出」
◆森脇 健太 「OBIC利用によるLSI解析の研究」
◆山中 智史 「液晶利用故障解析のための温度制御器の作成」
−2007年度−
修士
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学士
◆松波 太郎 「数理統計を用いた加速試験結果からの寿命予測」
◆桑田 雄一 「レーザ照射による励起キャリアの挙動追跡」
＊鈴木 聡一郎 「フーリエ級数解析により微小リーク電流の検出」
◆姉尾 政憲 「欠陥起因によるLSI断面の構造シミュレーション」
◆高橋 慎太郎 「発光解析によるオープン故障箇所の特定」
◆柘野 裕紀 「SLS(Switching Level Simulation)によるショート故障箇所候補の特定」
◆山崎 規雄 「ESD試験装置の開発と評価」
＊山本 賢二 「液晶塗布法による微小発熱箇所の検出」
−2008年度−
修士
◆橋田 啓示 「ゲート回路におけるオープン故障がもたらす電気的特性の評価・解析」
◆中村 朋矢 「トランジスタレベルによるゲート回路故障診断-セル内故障診断方式の利用-」
学士
◆小松 邦敏 「静電気破壊とＥＳＤモデルの対比研究」
◆高橋 洸貴 「LSI用のヒートシンクによる冷却効果」
◆中山 貴雅 「配線露出のためのRIE加工条件の最適化」
◆檜垣 翔平 「FPGAを用いたLSIテストシステムの開発」
◆平野 泰正 「オープン故障に伴う発光現象の研究」
−2009年度−
修士
◆妹尾 政憲 「断面構造解析シミュレーションによるLSIの故障解析への適用」
◆桑田 雄一 「レーザプロービングパッドを用いたLSIの論理解析」
◆畑 広海 「液晶を用いたLSIの故障解析とソフトウェアによる画像処理」
学士
＊海地 毅 「フーリエ級数によるＩＤＤＱ異常の解析」
◆岸 和敬 「DEFデータを用いた故障箇所候補の特定」
◆倉内 真吾 「静電気破壊とＥＳＤモデルの対比研究」
◆佐伯 明憲 「アモルファスSi太陽電池の光劣化」
◆水野 翔太 「断面研磨を用いたLSI解析試料の作成技術」
◆安富 泰輝 「CMOSオープン故障の論理の固定化」
−2010年度−
修士
学士
＊石川 涼 「RIE加工による最適条件の特定」
◆兼井 佑輔 「OBICを用いたLSIの欠陥箇所の検出」
◆坂本 俊輔 「電流の変動を用いたLSI劣化の顕在化」
◆関 英佑 SLSを用いたセル内故障候補の特定」
−2011年度−
修士
◆岸 和敬 「ゲート電圧に同期したTr-Z値の連続変化モデルの導入による故障診断」
◆倉内 真吾 「簡易ESD試験器の破壊パルスの精度向上」
◆水野 翔太 「LSIにおけるデンドライトの発生と成長の傾向」
◆安冨 泰輝 「ゲートオープン故障に起因した不安定出力のレーザ照射による固定化メカニズム」
学士
◆喜多 紀之 「液晶を用いた電位コントラス像の観察」
＊南 幸宏 「断面構造シミュレーションを用いた異常発生の検討」
◆柳原 健二 「光励起による拡散層欠陥の識別」
−2012年度−
修士
◆坂本 俊輔 「IDDQを用いたLSIの劣化兆候の検出」
学士
◆内田 貴之 「ミストCVD法による大気圧高品質薄膜作製とそのデバイス応用」
◆中山 慧悟 「印加パルス波形の変化によるESD破壊状態の観測」
−2013年度−
修士
◆佐伯 明憲 「準静電界センシングによるLSI内部構造の識別」
学士
＊仁井田 和樹 「長波長CCDカメラによるLSI内部発光の観察」
＊濱田 喜之 「SLSによるＬＳＩ内部の故障候補の特定」
休憩